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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m21c.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador8JMKD3MGP3W34R/432C7KP
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m21c/2020/08.05.11.14   (acesso restrito)
Última Atualização2020:08.05.11.14.39 (UTC) simone
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m21c/2020/08.05.11.14.39
Última Atualização dos Metadados2022:01.04.01.35.18 (UTC) administrator
DOI10.1557/adv.2020.202
ISSN2059-8521
Chave de CitaçãoFornariAbrRapKycMor:2020:MoCoVa
TítuloMorphology control in van der Waals epitaxy of bismuth telluride topological insulators
Ano2020
Data de Acesso02 maio 2024
Tipo de Trabalhojournal article
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho1762 KiB
2. Contextualização
Autor1 Fornari, Celso Israel
2 Abramof, Eduardo
3 Rappl, Paulo Henrique de Oliveira
4 Kycia, Stefan W.
5 Morelhão, Sérgio Luiz
Identificador de Curriculo1
2 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH
3 8JMKD3MGP5W/3C9JJ37
Grupo1 CMS-ETES-SESPG-INPE-MCTIC-GOV-BR
2 LABAS-COCTE-INPE-MCTIC-GOV-BR
3 LABAS-COCTE-INPE-MCTIC-GOV-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
4 University of Guelph
5 Universidade de São Paulo
Endereço de e-Mail do Autor1 celso.fornari@inpe.br
2 eduardo.abramof@inpe.br
3 paulo.rappl@inpe.br
RevistaMRS Advances
Volume5
Número35/36
Páginas1891-1897
Histórico (UTC)2020-08-05 11:16:23 :: simone -> administrator :: 2020
2022-01-04 01:35:18 :: administrator -> simone :: 2020
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-Chavemolecular beam epitaxy (MBE)
x-ray diffraction (XRD)
atom probe microscopy
quantum materials
Bi
ResumoBismuth telluride have regained significant attention as a prototype of topological insulator. Thin films of high quality have been investigated as a basic platform for novel spintronic devices. Low mobility of bismuth and high desorption coefficient of telluride compose a scenario where growth parameters have drastic effects on structural and electronic properties of the films. Recently [J. Phys. Chem. C 2019, 123, 24818-24825], a detailed investigation has been performed on the dynamics of defects in epitaxial films of this material, revealing the impact of film/substrate lattice misfit on the films' lateral coherence. Very small lattice misfit (<0.05%) are expected to have no influence on quality of epitaxial system with atomic layers weakly bonded to each other by van der Waals forces, contrarily to what was observed. In this work, we investigate the correlation between lattice misfit and size and morphology of the film crystalline domains. Three-dimensional reciprocal-space maps of film Bragg reflections obtained with synchrotron X-rays are used to visualize the spatial conformation of the crystallographic domains through film thickness, while atomic force microscopy images provide direct information of the domains morphology at the film surface.
ÁreaFISMAT
Arranjo 1urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Morphology control in...
Arranjo 2urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção pgr ATUAIS > CMS > Morphology control in...
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agreement.html 05/08/2020 08:14 1.0 KiB 
4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvofornari_morphology.pdf
Grupo de Usuáriossimone
Grupo de Leitoresadministrator
simone
Visibilidadeshown
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
8JMKD3MGPCW/3F358GL
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/bibdigital/2013/09.24.19.30 4
sid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.57.50 2
sid.inpe.br/bibdigital/2013/10.14.21.39 1
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirourlib.net/www/2017/11.22.19.04
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivingpolicy archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository month nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarykey secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype url
7. Controle da descrição
e-Mail (login)simone
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